Sistema Confocal Sensofar S Neox

Sistema Perfilador óptico 3D Sensofar S neox

El nuevo perfilómetro óptico S neox supera a los microscopios ópticos de perfilado 3D existentes en rendimiento, funcionalidad, eficiencia y diseño, proporcionando un sistema de medición de áreas líder en su clase.

Más rápido que nunca: Todo es más rápido con su cámara y algoritmos únicos e inteligentes. La adquisición de datos se realiza a 180 fps haciendo la 5 veces más rápida.
Fácil de usar: Incluso si eres un usuario principiante, el sistema se puede administrar con un solo clic.

Sistema versátil:

-Control de calidad: Tiene módulos automatizados para facilitar todos los procedimientos de control de calidad que van desde el control de derechos de acceso del operador, recetas, compatibilidad con lectores de códigos de barras/QR, y complementos personalizados con el Software SensoPRO para generar informes de aprobado/no aprobado. Estas soluciones optimizadas son capaces para trabajar en entornos de Control de Calidad debido a su flexibilidad y su interfaz fácil de usar, que se puede programar para funcionar 24 horas al día, 7 días a la semana. Las medidas de acabado superficial nunca han sido tan fáciles.

- Investigación y desarrollo: Con el enfoque 3 en 1 de Sensofar -un solo clic en SensoSCAN, el sistema cambia a la la mejor técnica para la tarea en cuestión. Las tres técnicas de medición que se encuentran en el S neox -Confocal, Interferometría, Ai Focus Variation- contribuyen de forma decisiva a la versatilidad del sistema y ayudan a minimizar minimizar los compromisos indeseables en la adquisición de datos. El perfilómetro óptico S neox es ideal para todos los entornos de laboratorio sin limitaciones.

Mejor rendimiento con iluminación de 4 LEDs: Rojo, verde, azul y blanco.

Certificado por norma ISO 25178 parte 700 y parte 600: Todos los equipos se calibran utilizando estándares de trazabilidad para el factor de amplificación Z, dimensiones laterales XY, desviación de planitud, ruido del sistema, así como parcentricidad y parfocalidad.

Alta resolución

Observación de contraste de interferencia.


Tecnología 4 en 1:

- Ai Focus Variation: Active illumination Focus Variation del enfoque explora verticalmente la óptica (con una profundidad de campo muy baja) o la muestra para obtener un conjunto continuo de imágenes de la superficie. Un algoritmo determina qué puntos de cada fotograma están enfocados, y se construye una imagen completa utilizando todos los puntos enfocados de todos los fotogramas. Se ha mejorado con el uso de iluminación activa para obtener una localización del enfoque más fiable incluso en superficies ópticamente lisas.

-Confocal: La técnica de obtención de imágenes incluida en los microscopios confocales utiliza una abertura en el plano confocal del objetivo. De este modo se evita que la luz desenfocada entre en el sistema de imagen y sólo se captura el plano enfocado de la muestra. Se pueden capturar perfiles 2D e imágenes 3D de la superficie mediante el barrido mecánico o digital de la abertura.

-Interferometría: La interferometría óptica utiliza la diferencia de camino óptico entre la luz reflejada en los dos brazos del interferómetro (referencia y muestra) para obtener un patrón de interferencia espacial (interferogramas) que contiene información sobre la topología de la superficie de la muestra. Se pueden utilizar diversas variaciones del método para aplicaciones concretas.

-Thin Film: La técnica de medición de Thin Film mide el espesor de capas ópticamente transparentes de forma rápida, precisa, no destructiva y no requiere preparación de la muestra. El perfilómetro adquiere el espectro de reflectancia de la muestra en el rango visible, y se compara con un espectro simulado calculado por el software, con modificación del espesor de la capa hasta encontrar el mejor ajuste. Pueden medirse películas transparentes de 50 nm a 1,5 μm en menos de un segundo. El diámetro del punto de evaluación de la muestra depende del aumento del objetivo, que puede ser tan bajo como 0,5 μm y hasta 40 μm.